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傅里叶红外光谱测试

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利用光干涉原理,,,,傅里叶变换红外光谱仪(FTIR)可获取光源频率和强度信息,,,有效克服分辨能力低、、输出光量小等问题,,,,适用于元素分析、、谱线测量、、气/液体特征测试、、、漫反射测试等。。。。
参数光谱范围:2.5μm~25μm
产品参数
光谱范围:2.5μm~25μm
测量模式:腔室测量、、贴近测量
分辨率:>2cm-1
信噪比:RMS优于150000:1
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详细信息
  • 器件性能及光谱测试

    针对MEMS传感器性能指标,,AG尊龙提供以椭偏测试、、、光谱测试、、、激光多普勒测振等测试项目,,,,可对材料膜厚、、折射率、、、、吸收率、、、、透光度、、光波强度、、、振动模态等性能指标进行更准确测量,,,,以保障MEMS芯片工艺质量和器件性能。。。


傅里叶红外光谱测试

光谱范围:2.5μm~25μm

测量模式:腔室测量、、、贴近测量

分辨率:>2cm-1

信噪比:RMS优于150000:1


       利用光干涉原理,,,,傅里叶变换红外光谱仪(FTIR)可获取光源频率和强度信息,,,有效克服分辨能力低、、、、输出光量小等问题,,,适用于元素分析、、谱线测量、、、气/液体特征测试、、、、漫反射测试等。。


傅里叶红外光谱测试
傅里叶红外光谱测试
傅里叶红外光谱测试
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利用光干涉原理,,,,傅里叶变换红外光谱仪(FTIR)可获取光源频率和强度信息,,,有效克服分辨能力低、、、、输出光量小等问题,,适用于元素分析、、、谱线测量、、、、气/液体特征测试、、、漫反射测试等。。。。
光谱范围:2.5μm~25μm
测量模式:腔室测量、、、贴近测量
分辨率:>2cm-1
信噪比:RMS优于150000:1
13065680938
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    针对MEMS传感器性能指标,,AG尊龙提供以椭偏测试、、、、光谱测试、、、激光多普勒测振等测试项目,,,,可对材料膜厚、、折射率、、、吸收率、、、、透光度、、、、光波强度、、振动模态等性能指标进行更准确测量,,,,以保障MEMS芯片工艺质量和器件性能。。。


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光谱范围:2.5μm~25μm

测量模式:腔室测量、、贴近测量

分辨率:>2cm-1

信噪比:RMS优于150000:1


       利用光干涉原理,,,傅里叶变换红外光谱仪(FTIR)可获取光源频率和强度信息,,有效克服分辨能力低、、、、输出光量小等问题,,适用于元素分析、、谱线测量、、气/液体特征测试、、漫反射测试等。。。


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